Verfügbarkeit: Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen

Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen:

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person:	Kraus, Martin Richard H. (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	Heimsheim Jost-Jetter 2002
Schriftenreihe:	IPA-IAO-Forschung und -Praxis 353
Schlagwörter:	Oberflächenmessung Nanotechnologie Gitterbaufehler Bottom-up-Prinzip Toleranz > Technik Atomverteilung Hochschulschrift
Links:	http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=010045717&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA
Beschreibung:	Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2002
Umfang:	119, 9 S.
ISBN:	3931388824

Internformat

MARC


LEADER	00000nam a2200000 cb4500
001	BV014849155
003	DE-604
005	20021217
007	t\|
008	021105s2002 xx m\|\|\| 00\|\|\| ger d
016	7		\|a 965411915 \|2 DE-101
020			\|a 3931388824 \|9 3-931388-82-4
035			\|a (OCoLC)76414147
035			\|a (DE-599)BVBBV014849155
040			\|a DE-604 \|b ger \|e rakwb
041	0		\|a ger
049			\|a DE-29T \|a DE-83
100	1		\|a Kraus, Martin Richard H. \|e Verfasser \|4 aut
245	1	0	\|a Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen \|c Martin Richard H. Kraus
264		1	\|a Heimsheim \|b Jost-Jetter \|c 2002
300			\|a 119, 9 S.
336			\|b txt \|2 rdacontent
337			\|b n \|2 rdamedia
338			\|b nc \|2 rdacarrier
490	1		\|a IPA-IAO-Forschung und -Praxis \|v 353
500			\|a Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2002
650	0	7	\|a Oberflächenmessung \|0 (DE-588)4172249-8 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Nanotechnologie \|0 (DE-588)4327470-5 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Gitterbaufehler \|0 (DE-588)4125030-8 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Bottom-up-Prinzip \|0 (DE-588)4243684-9 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Toleranz \|g Technik \|0 (DE-588)4060356-8 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Atomverteilung \|0 (DE-588)4469970-0 \|2 gnd \|9 rswk-swf
655		7	\|0 (DE-588)4113937-9 \|a Hochschulschrift \|2 gnd-content
689	0	0	\|a Nanotechnologie \|0 (DE-588)4327470-5 \|D s
689	0	1	\|a Bottom-up-Prinzip \|0 (DE-588)4243684-9 \|D s
689	0	2	\|a Gitterbaufehler \|0 (DE-588)4125030-8 \|D s
689	0	3	\|a Atomverteilung \|0 (DE-588)4469970-0 \|D s
689	0	4	\|a Toleranz \|g Technik \|0 (DE-588)4060356-8 \|D s
689	0	5	\|a Oberflächenmessung \|0 (DE-588)4172249-8 \|D s
689	0		\|5 DE-604
830		0	\|a IPA-IAO-Forschung und -Praxis \|v 353 \|w (DE-604)BV000852131 \|9 353
856	4	2	\|m DNB Datenaustausch \|q application/pdf \|u http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=010045717&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA \|3 Inhaltsverzeichnis
943	1		\|a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-010045717

Datensatz im Suchindex

_version_	1818957376424771585
any_adam_object	1
author	Kraus, Martin Richard H.
author_facet	Kraus, Martin Richard H.
author_role	aut
author_sort	Kraus, Martin Richard H.
author_variant	m r h k mrh mrhk
building	Verbundindex
bvnumber	BV014849155
ctrlnum	(OCoLC)76414147 (DE-599)BVBBV014849155
format	Book
fullrecord	<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02028nam a2200481 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV014849155</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20021217 </controlfield><controlfield tag="007">t\|</controlfield><controlfield tag="008">021105s2002 xx m\|\|\| 00\|\|\| ger d</controlfield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">965411915</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3931388824</subfield><subfield code="9">3-931388-82-4</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)76414147</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV014849155</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Kraus, Martin Richard H.</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen</subfield><subfield code="c">Martin Richard H. Kraus</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Heimsheim</subfield><subfield code="b">Jost-Jetter</subfield><subfield code="c">2002</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">119, 9 S.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">IPA-IAO-Forschung und -Praxis</subfield><subfield code="v">353</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2002</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Oberflächenmessung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4172249-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Nanotechnologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4327470-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Gitterbaufehler</subfield><subfield code="0">(DE-588)4125030-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Bottom-up-Prinzip</subfield><subfield code="0">(DE-588)4243684-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Toleranz</subfield><subfield code="g">Technik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4060356-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Atomverteilung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4469970-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Nanotechnologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4327470-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Bottom-up-Prinzip</subfield><subfield code="0">(DE-588)4243684-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Gitterbaufehler</subfield><subfield code="0">(DE-588)4125030-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Atomverteilung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4469970-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">Toleranz</subfield><subfield code="g">Technik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4060356-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="5"><subfield code="a">Oberflächenmessung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4172249-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">IPA-IAO-Forschung und -Praxis</subfield><subfield code="v">353</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV000852131</subfield><subfield code="9">353</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">DNB Datenaustausch</subfield><subfield code="q">application/pdf</subfield><subfield code="u">http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=010045717&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA</subfield><subfield code="3">Inhaltsverzeichnis</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-010045717</subfield></datafield></record></collection>
genre	(DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content
genre_facet	Hochschulschrift
id	DE-604.BV014849155
illustrated	Not Illustrated
indexdate	2024-12-20T11:08:52Z
institution	BVB
isbn	3931388824
language	German
oai_aleph_id	oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-010045717
oclc_num	76414147
open_access_boolean
owner	DE-29T DE-83
owner_facet	DE-29T DE-83
physical	119, 9 S.
publishDate	2002
publishDateSearch	2002
publishDateSort	2002
publisher	Jost-Jetter
record_format	marc
series	IPA-IAO-Forschung und -Praxis
series2	IPA-IAO-Forschung und -Praxis
spelling	Kraus, Martin Richard H. Verfasser aut Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen Martin Richard H. Kraus Heimsheim Jost-Jetter 2002 119, 9 S. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier IPA-IAO-Forschung und -Praxis 353 Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2002 Oberflächenmessung (DE-588)4172249-8 gnd rswk-swf Nanotechnologie (DE-588)4327470-5 gnd rswk-swf Gitterbaufehler (DE-588)4125030-8 gnd rswk-swf Bottom-up-Prinzip (DE-588)4243684-9 gnd rswk-swf Toleranz Technik (DE-588)4060356-8 gnd rswk-swf Atomverteilung (DE-588)4469970-0 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Nanotechnologie (DE-588)4327470-5 s Bottom-up-Prinzip (DE-588)4243684-9 s Gitterbaufehler (DE-588)4125030-8 s Atomverteilung (DE-588)4469970-0 s Toleranz Technik (DE-588)4060356-8 s Oberflächenmessung (DE-588)4172249-8 s DE-604 IPA-IAO-Forschung und -Praxis 353 (DE-604)BV000852131 353 DNB Datenaustausch application/pdf http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=010045717&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA Inhaltsverzeichnis
spellingShingle	Kraus, Martin Richard H. Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen IPA-IAO-Forschung und -Praxis Oberflächenmessung (DE-588)4172249-8 gnd Nanotechnologie (DE-588)4327470-5 gnd Gitterbaufehler (DE-588)4125030-8 gnd Bottom-up-Prinzip (DE-588)4243684-9 gnd Toleranz Technik (DE-588)4060356-8 gnd Atomverteilung (DE-588)4469970-0 gnd
subject_GND	(DE-588)4172249-8 (DE-588)4327470-5 (DE-588)4125030-8 (DE-588)4243684-9 (DE-588)4060356-8 (DE-588)4469970-0 (DE-588)4113937-9
title	Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen
title_auth	Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen
title_exact_search	Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen
title_full	Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen Martin Richard H. Kraus
title_fullStr	Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen Martin Richard H. Kraus
title_full_unstemmed	Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen Martin Richard H. Kraus
title_short	Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen
title_sort	charakterisierung und tolerierung atomar strukturierter oberflachen
topic	Oberflächenmessung (DE-588)4172249-8 gnd Nanotechnologie (DE-588)4327470-5 gnd Gitterbaufehler (DE-588)4125030-8 gnd Bottom-up-Prinzip (DE-588)4243684-9 gnd Toleranz Technik (DE-588)4060356-8 gnd Atomverteilung (DE-588)4469970-0 gnd
topic_facet	Oberflächenmessung Nanotechnologie Gitterbaufehler Bottom-up-Prinzip Toleranz Technik Atomverteilung Hochschulschrift
url	http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=010045717&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA
volume_link	(DE-604)BV000852131
work_keys_str_mv	AT krausmartinrichardh charakterisierungundtolerierungatomarstrukturierteroberflachen

Verfügbarkeit

‌

Inhaltsverzeichnis