Availability: Epitaktisches Wachstum und strukturelle, elektrische und optische Charakterisierung von Ru 2Si 3-Schichten

Epitaktisches Wachstum und strukturelle, elektrische und optische Charakterisierung von Ru 2Si 3-Schichten:

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Main Author:	Lenssen, Daniel (Author)
Format:	Book
Language:	German
Published:	Jülich Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibl. 2000
Series:	Forschungszentrum <Jülich>: Berichte des Forschungszentrums Jülich 3783
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