Epitaktisches Wachstum und strukturelle, elektrische und optische Charakterisierung von Ru 2Si 3-Schichten - Lenssen, Daniel (Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibl., 2000)
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2000. - Zsfassung in engl. Sprache
Keywords: Optische Eigenschaft; Ruthenium; Kristallfläche; Bandstruktur; Silicide; Silicium; Epitaxieschicht; Hochschulschrift