Strukturelle und elektronische Eigenschaften amorpher Silizium-Suboxide:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Janssen, Rainer (VerfasserIn)
Format: Hochschulschrift/Dissertation Buch
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: München Walter-Schottky-Inst. 2000
Ausgabe:1. Aufl.
Schriftenreihe:Selected topics of semiconductor physics and technology 31
Schlagwörter:
Links:http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=009195232&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA
Umfang:IV, 275 S. graph. Darst. : 21 cm
ISBN:3932749316
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Signatur: 0001 DM 21033 Lageplan
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