Verfügbarkeit: Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop

Entwicklung von piezoelektrischen Positionierelementen und deren Validierung mit einem Transmissions-Elektronenmikroskop:

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Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person:	Baumann, Daniel Guy (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Deutsch Englisch
Veröffentlicht:	Düsseldorf VDI-Verl. 2000
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:	Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 1] 323
Schlagwörter:	Winkelmessung Goniometer Elektronenmikroskop Positionierung Lagemessung Durchstrahlungselektronenmikroskop Piezoelektrischer Aktor Hochschulschrift
Beschreibung:	Zugl.: Zürich, Techn. Hochsch., Diss. - Zsfassung in engl. Sprache
Umfang:	XII, 115 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	318332301X

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