Availability: Tiefenmikroskopie mit hochenergetischen, schweren Ionen

Tiefenmikroskopie mit hochenergetischen, schweren Ionen:

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Bibliographic Details
Main Author:	Dollinger, Günther 1960- (Author)
Format:	Book
Language:	German
Published:	1998
Subjects:	Raumauflösung Elastische Rückstreuanalyse Dünne Schicht Tiefe Hochschulschrift
Item Description:	München, Techn. Univ., Habil.-Schr., 1998. - Enth. außerdem u.a.: Dollinger, Günther: High resolution depth profiling of light elements
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