Verfügbarkeit: Tiefenmikroskopie mit hochenergetischen, schweren Ionen

Tiefenmikroskopie mit hochenergetischen, schweren Ionen:

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Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person:	Dollinger, Günther 1960- (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	1998
Schlagwörter:	Raumauflösung Elastische Rückstreuanalyse Dünne Schicht Tiefe Hochschulschrift
Beschreibung:	München, Techn. Univ., Habil.-Schr., 1998. - Enth. außerdem u.a.: Dollinger, Günther: High resolution depth profiling of light elements
Umfang:	Getr. Zählung graph. Darst.

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