Tiefenmikroskopie mit hochenergetischen, schweren Ionen - Dollinger, Günther 1960- (1998)
München, Techn. Univ., Habil.-Schr., 1998. - Enth. außerdem u.a.: Dollinger, Günther: High resolution depth profiling of light elements
Keywords: Raumauflösung; Elastische Rückstreuanalyse; Dünne Schicht; Tiefe; Hochschulschrift