Run length analysis of Shewhart charts applied to drifting processes under an integrative SPC-EPC model - Göb, Rainer; Del Castillo, Enrique; Dräger, Klaus (Würzburg Research Group on Quality Control, Inst. für Angewandte Mathematik und Statistik, 1998)
Keywords: Statistische Prozesslenkung; SHEWHART-Regelkarte