Charakterisierung chemisch modifizierter InP-Oberflächen Untersuchungen mit XPS/XAES, SXPS und XPD - Peisert, Heiko 1965- (1997)
Leipzig, Univ., Diss., 1997
Keywords: Modifizierung; Sulfidierung; Kristallfläche; Röntgen-Photoelektronenspektroskopie; Indiumphosphid; Röntgenstrahleninduzierte Auger-Spektroskopie; Hochschulschrift