Verfügbarkeit: Optische Mikrotopometrie und Rauheitsmessung an technischen Oberflächen

Optische Mikrotopometrie und Rauheitsmessung an technischen Oberflächen:

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person:	Jordan, Hans-Joachim (VerfasserIn)
Format:	Hochschulschrift/Dissertation Buch
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	Stuttgart ITO 1996
Schriftenreihe:	Institut für Technische Optik <Stuttgart>: Berichte aus dem Institut für Technische Optik der Universität Stuttgart 28
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