Verfügbarkeit: On the test design for analog integrated circuits

On the test design for analog integrated circuits:

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Bibliographische Detailangaben
Beteiligte Personen:	Lindermeir, Walter M. (VerfasserIn), Graeb, Helmut E. (VerfasserIn), Antreich, Kurt (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	München TUM, LRE [1996]
Schriftenreihe:	Technische Universität <München> / Lehrstuhl für Rechnergestütztes Entwerfen: Technischer Bericht 1996,1
Beschreibung:	Literaturverz. Bl. 43 - 46
Umfang:	46 Bl. graph. Darst.

Internformat

MARC


LEADER	00000nam a2200000 cb4500
001	BV010829939
003	DE-604
005	19981202
007	t\|
008	960624s1996 gw d\|\|\| t\|\|\| 00\|\|\| ger d
016	7		\|a 947675221 \|2 DE-101
035			\|a (OCoLC)75737881
035			\|a (DE-599)BVBBV010829939
040			\|a DE-604 \|b ger \|e rakddb
041	0		\|a ger
044			\|a gw \|c DE
049			\|a DE-12 \|a DE-91
084			\|a ELT 359f \|2 stub
088			\|a TUM LRE 96 1
100	1		\|a Lindermeir, Walter M. \|e Verfasser \|4 aut
245	1	0	\|a On the test design for analog integrated circuits \|c Walter M. Lindermeir, Helmut E. Graeb, and Kurt J. Antreich. Technische Universität München, Lehrstuhl für Rechnergestütztes Entwerfen
264		1	\|a München \|b TUM, LRE \|c [1996]
300			\|a 46 Bl. \|b graph. Darst.
336			\|b txt \|2 rdacontent
337			\|b n \|2 rdamedia
338			\|b nc \|2 rdacarrier
490	1		\|a Technische Universität <München> / Lehrstuhl für Rechnergestütztes Entwerfen: Technischer Bericht \|v 1996,1
500			\|a Literaturverz. Bl. 43 - 46
700	1		\|a Graeb, Helmut E. \|e Verfasser \|4 aut
700	1		\|a Antreich, Kurt \|e Verfasser \|4 aut
810	2		\|a Lehrstuhl für Rechnergestütztes Entwerfen: Technischer Bericht \|t Technische Universität <München> \|v 1996,1 \|w (DE-604)BV006642364 \|9 1996,1
943	1		\|a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007238052

Datensatz im Suchindex

DE-BY-TUM_call_number	0834 IB.164
DE-BY-TUM_katkey	771610
DE-BY-TUM_location	LSB
DE-BY-TUM_media_number	TEMP3000637
_version_	1821941049840369665
any_adam_object
author	Lindermeir, Walter M. Graeb, Helmut E. Antreich, Kurt
author_facet	Lindermeir, Walter M. Graeb, Helmut E. Antreich, Kurt
author_role	aut aut aut
author_sort	Lindermeir, Walter M.
author_variant	w m l wm wml h e g he heg k a ka
building	Verbundindex
bvnumber	BV010829939
classification_tum	ELT 359f
ctrlnum	(OCoLC)75737881 (DE-599)BVBBV010829939
discipline	Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik
format	Book
fullrecord	<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01343nam a2200349 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV010829939</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">19981202 </controlfield><controlfield tag="007">t\|</controlfield><controlfield tag="008">960624s1996 gw d\|\|\| t\|\|\| 00\|\|\| ger d</controlfield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">947675221</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)75737881</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV010829939</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-91</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 359f</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="088" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">TUM LRE 96 1</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Lindermeir, Walter M.</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">On the test design for analog integrated circuits</subfield><subfield code="c">Walter M. Lindermeir, Helmut E. Graeb, and Kurt J. Antreich. Technische Universität München, Lehrstuhl für Rechnergestütztes Entwerfen</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">München</subfield><subfield code="b">TUM, LRE</subfield><subfield code="c">[1996]</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">46 Bl.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Technische Universität <München> / Lehrstuhl für Rechnergestütztes Entwerfen: Technischer Bericht</subfield><subfield code="v">1996,1</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Literaturverz. Bl. 43 - 46</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Graeb, Helmut E.</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Antreich, Kurt</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="810" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Lehrstuhl für Rechnergestütztes Entwerfen: Technischer Bericht</subfield><subfield code="t">Technische Universität <München></subfield><subfield code="v">1996,1</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV006642364</subfield><subfield code="9">1996,1</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007238052</subfield></datafield></record></collection>
id	DE-604.BV010829939
illustrated	Illustrated
indexdate	2024-12-20T10:01:31Z
institution	BVB
language	German
oai_aleph_id	oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007238052
oclc_num	75737881
open_access_boolean
owner	DE-12 DE-91 DE-BY-TUM
owner_facet	DE-12 DE-91 DE-BY-TUM
physical	46 Bl. graph. Darst.
publishDate	1996
publishDateSearch	1996
publishDateSort	1996
publisher	TUM, LRE
record_format	marc
series2	Technische Universität <München> / Lehrstuhl für Rechnergestütztes Entwerfen: Technischer Bericht
spellingShingle	Lindermeir, Walter M. Graeb, Helmut E. Antreich, Kurt On the test design for analog integrated circuits
title	On the test design for analog integrated circuits
title_auth	On the test design for analog integrated circuits
title_exact_search	On the test design for analog integrated circuits
title_full	On the test design for analog integrated circuits Walter M. Lindermeir, Helmut E. Graeb, and Kurt J. Antreich. Technische Universität München, Lehrstuhl für Rechnergestütztes Entwerfen
title_fullStr	On the test design for analog integrated circuits Walter M. Lindermeir, Helmut E. Graeb, and Kurt J. Antreich. Technische Universität München, Lehrstuhl für Rechnergestütztes Entwerfen
title_full_unstemmed	On the test design for analog integrated circuits Walter M. Lindermeir, Helmut E. Graeb, and Kurt J. Antreich. Technische Universität München, Lehrstuhl für Rechnergestütztes Entwerfen
title_short	On the test design for analog integrated circuits
title_sort	on the test design for analog integrated circuits
volume_link	(DE-604)BV006642364
work_keys_str_mv	AT lindermeirwalterm onthetestdesignforanalogintegratedcircuits AT graebhelmute onthetestdesignforanalogintegratedcircuits AT antreichkurt onthetestdesignforanalogintegratedcircuits

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