Verfügbarkeit: Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person:	Schumann, Dirk (VerfasserIn)
Format:	Hochschulschrift/Dissertation Microform Buch
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	1995
Ausgabe:	[Mikrofiche-Ausg.]
Schlagwörter:	Zwei-Sechs-Halbleiter Störstelle Übergangsmetall PAD PAC Hochschulschrift
Umfang:	II, 90 S. graph. Darst.

Internformat

MARC


LEADER	00000nam a2200000 c 4500
001	BV010212769
003	DE-604
005	20170918
007	he\|bmb024bbcu
008	950531s1995 gw d\|\|\| bm\|\|\| 00\|\|\| ger d
016	7		\|a 943931045 \|2 DE-101
035			\|a (OCoLC)64524259
035			\|a (DE-599)BVBBV010212769
040			\|a DE-604 \|b ger \|e rakwb
041	0		\|a ger
044			\|a gw \|c DE
049			\|a DE-29T \|a DE-91 \|a DE-11 \|a DE-188
084			\|a PHY 695d \|2 stub
084			\|a PHY 692d \|2 stub
084			\|a PHY 757d \|2 stub
084			\|a PHY 621d \|2 stub
100	1		\|a Schumann, Dirk \|e Verfasser \|4 aut
245	1	0	\|a Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation \|b Untersuchungen an 43Sc, 62Cu und 100Pd mittels gestörter Winkelverteilung und gestörter Winkelkorrelation \|c von Dirk Schumann
250			\|a [Mikrofiche-Ausg.]
264		1	\|c 1995
300			\|a II, 90 S. \|b graph. Darst.
336			\|b txt \|2 rdacontent
337			\|b h \|2 rdamedia
338			\|b he \|2 rdacarrier
502			\|a Berlin, Techn. Univ., Diss., 1995
533			\|a Mikroform-Ausgabe \|n Mikrofiche-Ausg.: \|e 1 Mikrofiche : 24x
650	0	7	\|a Zwei-Sechs-Halbleiter \|0 (DE-588)4191263-9 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Störstelle \|0 (DE-588)4193400-3 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Übergangsmetall \|0 (DE-588)4078494-0 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a PAD \|0 (DE-588)4312567-0 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a PAC \|0 (DE-588)4312451-3 \|2 gnd \|9 rswk-swf
655		7	\|0 (DE-588)4113937-9 \|a Hochschulschrift \|2 gnd-content
689	0	0	\|a Zwei-Sechs-Halbleiter \|0 (DE-588)4191263-9 \|D s
689	0	1	\|a Übergangsmetall \|0 (DE-588)4078494-0 \|D s
689	0	2	\|a Störstelle \|0 (DE-588)4193400-3 \|D s
689	0	3	\|a PAC \|0 (DE-588)4312451-3 \|D s
689	0	4	\|a PAD \|0 (DE-588)4312567-0 \|D s
689	0		\|5 DE-604
776	0	8	\|i Reproduktion von \|a Schumann, Dirk \|t Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation \|d 1995
943	1		\|a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006786286

Datensatz im Suchindex

DE-BY-TUM_call_number	0001 MD 12088
DE-BY-TUM_katkey	654903
DE-BY-TUM_location	Mag
DE-BY-TUM_media_number	TEMP2074435
_version_	1821938529229340673
any_adam_object
author	Schumann, Dirk
author_facet	Schumann, Dirk
author_role	aut
author_sort	Schumann, Dirk
author_variant	d s ds
building	Verbundindex
bvnumber	BV010212769
classification_tum	PHY 695d PHY 692d PHY 757d PHY 621d
ctrlnum	(OCoLC)64524259 (DE-599)BVBBV010212769
discipline	Physik
edition	[Mikrofiche-Ausg.]
format	Thesis Microfilm Book
fullrecord	<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01976nam a2200505 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV010212769</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20170918 </controlfield><controlfield tag="007">he\|bmb024bbcu</controlfield><controlfield tag="008">950531s1995 gw d\|\|\| bm\|\|\| 00\|\|\| ger d</controlfield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">943931045</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)64524259</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV010212769</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield><subfield code="a">DE-188</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 695d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 692d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 757d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 621d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Schumann, Dirk</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation</subfield><subfield code="b">Untersuchungen an 43Sc, 62Cu und 100Pd mittels gestörter Winkelverteilung und gestörter Winkelkorrelation</subfield><subfield code="c">von Dirk Schumann</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">[Mikrofiche-Ausg.]</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1995</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">II, 90 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">h</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">he</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Berlin, Techn. Univ., Diss., 1995</subfield></datafield><datafield tag="533" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Mikroform-Ausgabe</subfield><subfield code="n">Mikrofiche-Ausg.:</subfield><subfield code="e">1 Mikrofiche : 24x</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Zwei-Sechs-Halbleiter</subfield><subfield code="0">(DE-588)4191263-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Störstelle</subfield><subfield code="0">(DE-588)4193400-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Übergangsmetall</subfield><subfield code="0">(DE-588)4078494-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">PAD</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312567-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">PAC</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312451-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Zwei-Sechs-Halbleiter</subfield><subfield code="0">(DE-588)4191263-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Übergangsmetall</subfield><subfield code="0">(DE-588)4078494-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Störstelle</subfield><subfield code="0">(DE-588)4193400-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">PAC</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312451-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">PAD</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312567-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="0" ind2="8"><subfield code="i">Reproduktion von</subfield><subfield code="a">Schumann, Dirk</subfield><subfield code="t">Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation</subfield><subfield code="d">1995</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006786286</subfield></datafield></record></collection>
genre	(DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content
genre_facet	Hochschulschrift
id	DE-604.BV010212769
illustrated	Illustrated
indexdate	2024-12-20T09:50:02Z
institution	BVB
language	German
oai_aleph_id	oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006786286
oclc_num	64524259
open_access_boolean
owner	DE-29T DE-91 DE-BY-TUM DE-11 DE-188
owner_facet	DE-29T DE-91 DE-BY-TUM DE-11 DE-188
physical	II, 90 S. graph. Darst.
publishDate	1995
publishDateSearch	1995
publishDateSort	1995
record_format	marc
spellingShingle	Schumann, Dirk Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation Untersuchungen an 43Sc, 62Cu und 100Pd mittels gestörter Winkelverteilung und gestörter Winkelkorrelation Zwei-Sechs-Halbleiter (DE-588)4191263-9 gnd Störstelle (DE-588)4193400-3 gnd Übergangsmetall (DE-588)4078494-0 gnd PAD (DE-588)4312567-0 gnd PAC (DE-588)4312451-3 gnd
subject_GND	(DE-588)4191263-9 (DE-588)4193400-3 (DE-588)4078494-0 (DE-588)4312567-0 (DE-588)4312451-3 (DE-588)4113937-9
title	Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation Untersuchungen an 43Sc, 62Cu und 100Pd mittels gestörter Winkelverteilung und gestörter Winkelkorrelation
title_auth	Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation Untersuchungen an 43Sc, 62Cu und 100Pd mittels gestörter Winkelverteilung und gestörter Winkelkorrelation
title_exact_search	Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation Untersuchungen an 43Sc, 62Cu und 100Pd mittels gestörter Winkelverteilung und gestörter Winkelkorrelation
title_full	Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation Untersuchungen an 43Sc, 62Cu und 100Pd mittels gestörter Winkelverteilung und gestörter Winkelkorrelation von Dirk Schumann
title_fullStr	Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation Untersuchungen an 43Sc, 62Cu und 100Pd mittels gestörter Winkelverteilung und gestörter Winkelkorrelation von Dirk Schumann
title_full_unstemmed	Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation Untersuchungen an 43Sc, 62Cu und 100Pd mittels gestörter Winkelverteilung und gestörter Winkelkorrelation von Dirk Schumann
title_short	Lokales Verhalten isolierter Übergangsmetallelemente in II - VI-Halbleitern nach Implantation
title_sort	lokales verhalten isolierter ubergangsmetallelemente in ii vi halbleitern nach implantation untersuchungen an 43sc 62cu und 100pd mittels gestorter winkelverteilung und gestorter winkelkorrelation
title_sub	Untersuchungen an 43Sc, 62Cu und 100Pd mittels gestörter Winkelverteilung und gestörter Winkelkorrelation
topic	Zwei-Sechs-Halbleiter (DE-588)4191263-9 gnd Störstelle (DE-588)4193400-3 gnd Übergangsmetall (DE-588)4078494-0 gnd PAD (DE-588)4312567-0 gnd PAC (DE-588)4312451-3 gnd
topic_facet	Zwei-Sechs-Halbleiter Störstelle Übergangsmetall PAD PAC Hochschulschrift
work_keys_str_mv	AT schumanndirk lokalesverhaltenisolierterubergangsmetallelementeiniivihalbleiternnachimplantationuntersuchungenan43sc62cuund100pdmittelsgestorterwinkelverteilungundgestorterwinkelkorrelation

Verfügbarkeit

Bestellen (Login erforderlich)

Paper/Kapitel scannen lassen

Bibliotheksmagazin

Bestandsangaben von Bibliotheksmagazin
Signatur:	0001 MD 12088
Exemplar 1	Ausleihbar Am Standort