Proceedings: 29 October - 5 November 1993, Wuhan, China 2
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments Wuhan (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Nichtbestimmte Sprache
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE (1993)
Schriftenreihe:Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers: Proceedings of SPIE 2101,2
Umfang:XXI S., S.769 - 1464 zahlr. Ill. u. graph. Darst.