Verfügbarkeit: Entwicklung und Erprobung kapazitiver Messverfahren für Tieftemperaturuntersuchungen an Halbleitern

Entwicklung und Erprobung kapazitiver Messverfahren für Tieftemperaturuntersuchungen an Halbleitern:

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Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person:	Hoyer, Wolfgang (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	1973
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Beschreibung:	Braunschweig, Techn. Univ., Fak. f. Maschinenbau u. Elektrotechn., Diss., 1973
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