Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung:
Gespeichert in:
| Beteilige Person: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Deutsch |
| Veröffentlicht: |
1993
|
| Schlagwörter: | |
| Beschreibung: | Paderborn, Univ., Diss., 1993 |
| Umfang: | 167 S. graph. Darst. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV008939305 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 19960416 | ||
| 007 | t| | ||
| 008 | 940228s1993 xx d||| m||| 00||| gerod | ||
| 035 | |a (OCoLC)612354427 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV008939305 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-91 |a DE-355 |a DE-83 |a DE-11 | ||
| 084 | |a DAT 195d |2 stub | ||
| 084 | |a ELT 358d |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Hübner, Uwe |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung |c Uwe Hübner |
| 264 | 1 | |c 1993 | |
| 300 | |a 167 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 500 | |a Paderborn, Univ., Diss., 1993 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Testmustergenerierung |0 (DE-588)4234817-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a VLSI |0 (DE-588)4117388-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Partitionierung |0 (DE-588)4139496-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Testen |0 (DE-588)4367264-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Testen |0 (DE-588)4367264-4 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a VLSI |0 (DE-588)4117388-0 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
| 689 | 1 | 2 | |a Partitionierung |0 (DE-588)4139496-3 |D s |
| 689 | 1 | 3 | |a Testmustergenerierung |0 (DE-588)4234817-1 |D s |
| 689 | 1 | |8 1\p |5 DE-604 | |
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 943 | 1 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-005896334 | |
Datensatz im Suchindex
| DE-BY-TUM_call_number | 0001 DA 94 449 |
|---|---|
| DE-BY-TUM_katkey | 615214 |
| DE-BY-TUM_location | Mag |
| DE-BY-TUM_media_number | TEMP2037291 |
| _version_ | 1821930926365474816 |
| any_adam_object | |
| author | Hübner, Uwe |
| author_facet | Hübner, Uwe |
| author_role | aut |
| author_sort | Hübner, Uwe |
| author_variant | u h uh |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV008939305 |
| classification_tum | DAT 195d ELT 358d |
| ctrlnum | (OCoLC)612354427 (DE-599)BVBBV008939305 |
| discipline | Informatik Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01688nam a2200457 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV008939305</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">19960416 </controlfield><controlfield tag="007">t|</controlfield><controlfield tag="008">940228s1993 xx d||| m||| 00||| gerod</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)612354427</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV008939305</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-355</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DAT 195d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 358d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Hübner, Uwe</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung</subfield><subfield code="c">Uwe Hübner</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1993</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">167 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Paderborn, Univ., Diss., 1993</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">VLSI</subfield><subfield code="0">(DE-588)4117388-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Partitionierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4139496-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Testen</subfield><subfield code="0">(DE-588)4367264-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Testen</subfield><subfield code="0">(DE-588)4367264-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">VLSI</subfield><subfield code="0">(DE-588)4117388-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Partitionierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4139496-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-005896334</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV008939305 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-12-20T09:29:07Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-005896334 |
| oclc_num | 612354427 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-355 DE-BY-UBR DE-83 DE-11 |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-355 DE-BY-UBR DE-83 DE-11 |
| physical | 167 S. graph. Darst. |
| publishDate | 1993 |
| publishDateSearch | 1993 |
| publishDateSort | 1993 |
| record_format | marc |
| spellingShingle | Hübner, Uwe Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd VLSI (DE-588)4117388-0 gnd Partitionierung (DE-588)4139496-3 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd Testen (DE-588)4367264-4 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4234817-1 (DE-588)4117388-0 (DE-588)4139496-3 (DE-588)4148111-2 (DE-588)4367264-4 (DE-588)4113937-9 |
| title | Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung |
| title_auth | Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung |
| title_exact_search | Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung |
| title_full | Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung Uwe Hübner |
| title_fullStr | Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung Uwe Hübner |
| title_full_unstemmed | Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung Uwe Hübner |
| title_short | Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung |
| title_sort | partitionierung und analyse statischer digitaler cmos schaltungen auf der schalterebene zur vorbereitung einer mixed level testgenerierung |
| topic | Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd VLSI (DE-588)4117388-0 gnd Partitionierung (DE-588)4139496-3 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd Testen (DE-588)4367264-4 gnd |
| topic_facet | Testmustergenerierung VLSI Partitionierung CMOS-Schaltung Testen Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT hubneruwe partitionierungundanalysestatischerdigitalercmosschaltungenaufderschalterebenezurvorbereitungeinermixedleveltestgenerierung |
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0001 DA 94 449
Lageplan |
|---|---|
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