Testability of circuits derived from functional decision diagrams:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteiligte Personen: Becker, Bernd (VerfasserIn), Drechsler, Rolf 1969- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Frankfurt [Main] Fachbereich Informatik, Univ. 1993
Schriftenreihe:Universität <Frankfurt, Main> / Fachbereich Informatik: Interner Bericht 1993,13
Umfang:14 S. graph. Darst.
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Teilbibliothek Mathematik & Informatik, Berichte

Bestandsangaben von Teilbibliothek Mathematik &amp; Informatik, Berichte
Signatur: 0111 2001 B 6037-1993,13 Lageplan
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