Availability: Zur Störstellenanalyse von Halbleitern

Zur Störstellenanalyse von Halbleitern: ein Methodenvergleich

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Main Author:	Klein, Günter (Author)
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Language:	German
Published:	1993
Subjects:	Tiefe Störstelle Halbleiterwerkstoff Bewertung Donator > Halbleiterphysik Energieniveau Messung Aktivierungsenergie Hochschulschrift
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