Hochauflösende Röntgendiffraktometrie zur Charakterisierung von II-VI-Halbleiter-Heterostrukturen:
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Bibliographic Details
Main Author: Möller, Markus O. (Author)
Format: Book
Language:Undetermined
Published: 1991
Subjects:
Item Description:Würzburg, Univ., Diss., 1992
Physical Description:VIII, 151 S. Ill., graph. Darst.