Entwicklung und Einsatz der rasterelektronenmikroskopischen Transient- spektroskopie (Scanning-DLTS) zur Untersuchung von Punktdefekt-Inhomo- genitäten in Halbleitern - Breitenstein, Otwin (1992)
Leipzig, Univ., Habil.-Schr., 1992
Keywords: Störstelle; Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie; Schur-Funktion; Halbleiter; Hochschulschrift