Characterization of crystal growth defects by X-Ray methods: [proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Models, held August 29 - September 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom]
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere beteiligte Personen: Tanner, Brian K. 1947- (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: New York [u.a.] Plenum Press 1980
Schriftenreihe:NATO: Nato advanced study institutes series / B 63
Schlagwörter:
Links:https://www.gbv.de/dms/tib-ub-hannover/012523690.pdf
Umfang:XXVI, 589 S. zahlr. Ill., graph. Darst.
ISBN:0306406284
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Signatur: 0024 81 B 191
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