Hochauflösende Röntgendiffraktometrie zur Charakterisierung von II - VI-Halbleiter-Heterostrukturen:
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| Format: | Thesis/Dissertation Microform Book |
| Language: | German |
| Published: |
1991
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| Edition: | [Mikrofiche-Ausg.] |
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| Item Description: | Würzburg, Univ., Diss., 1991. - Mikrofiche-Ausg.: 2 Mikrofiches : 24x |
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