Hochauflösende Röntgendiffraktometrie zur Charakterisierung von II - VI-Halbleiter-Heterostrukturen - Möller, Markus O. (1991)
Würzburg, Univ., Diss., 1991. - Mikrofiche-Ausg.: 2 Mikrofiches : 24x
Keywords: Heterostruktur; Zwei-Sechs-Halbleiter; Röntgenstrukturanalyse; Röntgendiffraktometrie; Hochschulschrift