Availability: Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen

Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen:

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author:	Hübner, Uwe (Author)
Format:	Book
Language:	German
Published:	Sankt Augustin GMD 1989
Series:	GMD-Studien 174
Subjects:	Testmustergenerierung CMOS-Schaltung
Physical Description:	282 S. Ill.
ISBN:	3884571745

Staff View

MARC


LEADER	00000nam a2200000 cb4500
001	BV002468793
003	DE-604
005	20100224
007	t\|
008	891127s1989 gw a\|\|\| \|\|\|\| 00\|\|\| ger d
020			\|a 3884571745 \|9 3-88457-174-5
035			\|a (OCoLC)246448100
035			\|a (DE-599)BVBBV002468793
040			\|a DE-604 \|b ger \|e rakddb
041	0		\|a ger
044			\|a gw \|c DE
049			\|a DE-91 \|a DE-91G \|a DE-210 \|a DE-12 \|a DE-703 \|a DE-739 \|a DE-862
084			\|a SI 213 \|0 (DE-625)143105: \|2 rvk
084			\|a ZN 4030 \|0 (DE-625)157339: \|2 rvk
084			\|a ZN 4960 \|0 (DE-625)157426: \|2 rvk
084			\|a ELT 468f \|2 stub
100	1		\|a Hübner, Uwe \|e Verfasser \|4 aut
245	1	0	\|a Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen \|c Uwe Hübner
264		1	\|a Sankt Augustin \|b GMD \|c 1989
300			\|a 282 S. \|b Ill.
336			\|b txt \|2 rdacontent
337			\|b n \|2 rdamedia
338			\|b nc \|2 rdacarrier
490	1		\|a GMD-Studien \|v 174
650	0	7	\|a Testmustergenerierung \|0 (DE-588)4234817-1 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a CMOS-Schaltung \|0 (DE-588)4148111-2 \|2 gnd \|9 rswk-swf
689	0	0	\|a CMOS-Schaltung \|0 (DE-588)4148111-2 \|D s
689	0	1	\|a Testmustergenerierung \|0 (DE-588)4234817-1 \|D s
689	0		\|5 DE-604
830		0	\|a GMD-Studien \|v 174 \|w (DE-604)BV035611570 \|9 174
943	1		\|a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001594802

Record in the Search Index

DE-BY-TUM_call_number	0024 82 B 686-174 0111 2001 B 6014-174
DE-BY-TUM_katkey	448269
DE-BY-TUM_location	Mag 01
DE-BY-TUM_media_number	040001496268 040010066110
_version_	1823717342803132416
adam_text
any_adam_object
author	Hübner, Uwe
author_facet	Hübner, Uwe
author_role	aut
author_sort	Hübner, Uwe
author_variant	u h uh
building	Verbundindex
bvnumber	BV002468793
classification_rvk	SI 213 ZN 4030 ZN 4960
classification_tum	ELT 468f
ctrlnum	(OCoLC)246448100 (DE-599)BVBBV002468793
discipline	Mathematik Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik
format	Book
fullrecord	<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00000nam a2200000 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV002468793</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20100224</controlfield><controlfield tag="007">t\|</controlfield><controlfield tag="008">891127s1989 gw a\|\|\| \|\|\|\| 00\|\|\| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3884571745</subfield><subfield code="9">3-88457-174-5</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)246448100</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV002468793</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-91G</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-703</subfield><subfield code="a">DE-739</subfield><subfield code="a">DE-862</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">SI 213</subfield><subfield code="0">(DE-625)143105:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4030</subfield><subfield code="0">(DE-625)157339:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4960</subfield><subfield code="0">(DE-625)157426:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 468f</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Hübner, Uwe</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen</subfield><subfield code="c">Uwe Hübner</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Sankt Augustin</subfield><subfield code="b">GMD</subfield><subfield code="c">1989</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">282 S.</subfield><subfield code="b">Ill.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">GMD-Studien</subfield><subfield code="v">174</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">GMD-Studien</subfield><subfield code="v">174</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV035611570</subfield><subfield code="9">174</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001594802</subfield></datafield></record></collection>
id	DE-604.BV002468793
illustrated	Illustrated
indexdate	2025-02-10T13:12:12Z
institution	BVB
isbn	3884571745
language	German
oai_aleph_id	oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-001594802
oclc_num	246448100
open_access_boolean
owner	DE-91 DE-BY-TUM DE-91G DE-BY-TUM DE-210 DE-12 DE-703 DE-739 DE-862 DE-BY-FWS
owner_facet	DE-91 DE-BY-TUM DE-91G DE-BY-TUM DE-210 DE-12 DE-703 DE-739 DE-862 DE-BY-FWS
physical	282 S. Ill.
publishDate	1989
publishDateSearch	1989
publishDateSort	1989
publisher	GMD
record_format	marc
series	GMD-Studien
series2	GMD-Studien
spellingShingle	Hübner, Uwe Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen GMD-Studien Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd
subject_GND	(DE-588)4234817-1 (DE-588)4148111-2
title	Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen
title_auth	Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen
title_exact_search	Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen
title_full	Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen Uwe Hübner
title_fullStr	Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen Uwe Hübner
title_full_unstemmed	Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen Uwe Hübner
title_short	Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen
title_sort	testmustergenerierung mit hoher fehleruberdeckung fur cmos schaltungen
topic	Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd
topic_facet	Testmustergenerierung CMOS-Schaltung
volume_link	(DE-604)BV035611570
work_keys_str_mv	AT hubneruwe testmustergenerierungmithoherfehleruberdeckungfurcmosschaltungen

Availability

Order (Login required)

Order paper/chapter scan

Closed Stacks

Holdings details from Bibliotheksmagazin
Call Number:	0024 82 B 686-174 Floor plan
Copy 1	Available for loan On Shelf

Branch Library Mathematics & Informatics, Reports

Holdings details from Teilbibliothek Mathematik & Informatik, Berichte
Call Number:	0111 2001 B 6014-174 Floor plan
Copy 1	Available for loan On Shelf