Zeitaufgelöste Untersuchungen zur Picosekundenladungsträgerrelaxation in Ionen-bestrahlten Silizium-Filmen - Pfeiffer, Thomas (1986)
Keywords: Ionenimplantation; Relaxation; Gitterbaufehler; Photoanregung; Pikosekundenbereich; Silicium; Elektronischer Transport; Dünne Schicht; Pikosekundenspektroskopie; Hochschulschrift