Automatic generation of functional test patterns from RT language source:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Beteilige Person: Hartenstein, Reiner W. 1934-2022 (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Kaiserslautern 1985
Schriftenreihe:Universität <Kaiserslautern> / Fachbereich Informatik: Interner Bericht 131
Schlagwörter:
Umfang:7 Bl.