Suchergebnisse - Vierhaus, Heinrich Theodor

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    Buchumschlag

    Entwurf hochintegrierter Schaltungen
    von Grosspietsch, Karl-Erwin, Vierhaus, Heinrich Theodor

    Veröffentlicht 1994
    Buch


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  2. 2
    Buchumschlag

    Testvorbereitung und testfreundlicher Entwurf für hochintegrierte Schaltungen
    von Vierhaus, Heinrich Theodor

    Veröffentlicht 1992
    Buch


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  3. 3
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    Ein Beitrag zur Simulation der Elektronenstreuung und zur Kompensation des Proximity-Effekts in der Elektronenstrahl-Lithographie
    von Vierhaus, Heinrich Theodor

    Veröffentlicht 1983
    Hochschulschrift/Dissertation Buch


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  4. 4
    Buchumschlag

    Hardware-Software codesign for embedded systems: a new technology or just a new name?
    von Vierhaus, Heinrich Theodor, Plöger, P., Wilberg, Jörg

    Veröffentlicht 1997
    Buch


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  5. 5
    Buchumschlag

    Dependable embedded systems: problems and new solutions for dependable hardware
    von Vierhaus, Heinrich Theodor

    Veröffentlicht 1997
    Buch


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  6. 6
    Buchumschlag

    Automatic test pattern generation for hierarchical sequential circuits
    von Vierhaus, Heinrich Theodor

    Veröffentlicht 1993
    Buch


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  7. 7
    Buchumschlag

    Power timing optimization for cell based digital circuits in sub micron technologies
    von Vierhaus, Heinrich Theodor, Rossmann, Helmut

    Veröffentlicht 2005
    Buch


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  8. 8
    Buchumschlag

    Power dependent placement and routing of standard cells in CMOS IC's
    von Vierhaus, Heinrich Theodor

    Veröffentlicht 2000
    Buch


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  9. 9
    Buchumschlag

    IDPES - performance optimiced processors-DSP system
    von Vierhaus, Heinrich Theodor

    Veröffentlicht 2000
    Buch


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  10. 10
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    Zuverlässige eingebettete Systeme: Test, Fehlertoleranz und Selbst-Reparatur von Hardware
    von Vierhaus, Heinrich Theodor

    Veröffentlicht 1997
    Buch


    Gespeichert in:
  11. 11
    Buchumschlag

    ATSEC results and their practical applicability
    von Vierhaus, Heinrich Theodor

    Veröffentlicht 1995
    Buch


    Gespeichert in:
  12. 12
    Buchumschlag

    Testing bridging faults in complex CMOS circuits
    von Vierhaus, Heinrich Theodor

    Veröffentlicht 1993
    Buch


    Gespeichert in:
  13. 13
    Buchumschlag

    Fault behavior and testability of asynchronous CMOS circuits
    von Vierhaus, Heinrich Theodor, Meyer, Wolfgang, Camposano, Raúl

    Veröffentlicht 1993
    Buch


    Gespeichert in:
  14. 14
    Buchumschlag

    Possibilities and limitations of logic self repair in nanoscale integrated circuits
    von Koal, Tobias, Vierhaus, Heinrich Theodor

    Veröffentlicht 2009
    Buch


    Gespeichert in:
  15. 15
    Buchumschlag

    Perspectives of combining on-line and production test capabilities for embedded systems with backup co-processors
    von Mohaupt, Thomas, Vierhaus, Heinrich Theodor

    Veröffentlicht 2000
    Buch


    Gespeichert in:
  16. 16
    Buchumschlag

    An efficient processor backup scheme for highly embedded systems
    von Vierhaus, Heinrich Theodor, Pflanz, Matthias

    Veröffentlicht 1998
    Buch


    Gespeichert in:
  17. 17
    Buchumschlag

    A comparative analysis of lddq-versus delay fault methods for defect-oriented testing of CMOS circuits
    von Vierhaus, Heinrich Theodor, Meyer, Wolfgang

    Veröffentlicht 1993
    Buch


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  18. 18
    Buchumschlag

    DEDIS-Nano-Days: October 11th and October 12th, 2007

    Veröffentlicht 2007
    Weitere beteiligte Personen: “… Vierhaus, Heinrich Theodor …”
    Tagungsbericht Buch


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  19. 19
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    Design and test technology for dependable systems-on-chip

    Veröffentlicht 2011
    Weitere beteiligte Personen: “… Vierhaus, Heinrich Theodor …”
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