Suchergebnisse - Kang, Sung-Mo (Steve)

  • Treffer 1 – 2 von 2
Treffer filtern
  1. 1
    Buchumschlag

    Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
    von Leblebici, Yusuf, Kang, Sung-Mo (Steve)

    Veröffentlicht 1993
    Elektronisch E-Book


    Gespeichert in:
  2. 2
    Buchumschlag

    Electrothermal Analysis of VLSI Systems
    von Cheng, Yi-Kan, Tsai, Ching-Han, Teng, Chin-Chi, Kang, Sung-Mo Steve

    Veröffentlicht 2002
    Elektronisch E-Book


    Gespeichert in:

Suchwerkzeuge: