Suchergebnisse - Hakim, Edward B.

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    Buchumschlag

    Influence of temperature on microelectronics and system reliability
    von Lall, Pradeep, Pecht, Michael G., Hakim, Edward B.

    Veröffentlicht 1997
    Buch


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    Buchumschlag

    Microelectronic reliability
    Band 1 - Reliability, test and diagnostics

    Veröffentlicht 1989
    Weitere beteiligte Personen: “… Hakim, Edward B. …”
    Buch


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