Suchergebnisse - Fahrner, Wolfgang R.
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1Nanotechnologie und Nanoprozesse: Einführung, BewertungVeröffentlicht 2003Signatur: Wird geladen …
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2Effects of radiation on MOS structures and silicon devicesVeröffentlicht 1983Signatur: Wird geladen …
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3[Kumulative Habilitationsschrift]Veröffentlicht 1981Signatur: Wird geladen …
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4Si, SiO 2, intrinsic states and interface chargesSignatur: Wird geladen …
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5Si-SiO 2 intrinsic states and interface chargesBand 2 - The measurement methodsvon Fahrner, Wolfgang R., Klausmann, E., Bräunig, D.Veröffentlicht 1987Signatur: Wird geladen …
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6Si-SiO 2 intrinsic states and interface chargesSignatur: Wird geladen …
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7Si/Si=2 intrinsic states and interface charges ; chapter II: the measurement methodsSignatur: Wird geladen …
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8Si/Si=2 intrinsic states and interface charges ; chapter II: the measurement methodsBand 2 - The measurement methodsvon Fahrner, Wolfgang R., Klausmann, E., Bräunig, D.Veröffentlicht 1987Signatur: Wird geladen …
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9Si, SiO 2, intrinsic states and interface chargesBand 1 - Origin, properties, models, impactvon Fahrner, Wolfgang R., Klausmann, E., Bräunig, DietrichVeröffentlicht 1984Signatur: Wird geladen …
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