Suchergebnisse - Breitenstein, Otwin

Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials

von Breitenstein, Otwin, Warta, Wilhelm, Schubert, Martin C.

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Lock-in thermography: basics and use for evaluating electronic devices and materials

von Breitenstein, Otwin, Warta, Wilhelm, Langenkamp, Martin

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Lock-in thermography: basics and use for functional diagnostics of electronic components

von Breitenstein, Otwin, Langenkamp, Martin

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Lock-in thermography: basics and use for evaluating electronic devices and materials

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Lock-in Thermography: Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components

von Breitenstein, Otwin, Langenkamp, Martin

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Lock-in thermography: basics and use for evaluating electronic devices and materials

von Breitenstein, Otwin, Warta, Wilhelm, Schubert, Martin

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Entwicklung und Einsatz der rasterelektronenmikroskopischen Transient- spektroskopie (Scanning-DLTS) zur Untersuchung von Punktdefekt-Inhomo- genitäten in Halbleitern

von Breitenstein, Otwin

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Einsatz und Erweiterung der Deep Level Transient Spectroscopy (DLTS) bei der Untersuchung von Faktoren, die die Effizienz von GaP:N-Lumineszenzdioden beeinflussen

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